SOHDA Yasunari
- Affiliation
- Institute of Pure and Applied Sciences
- Official title
- Professor
- G,(!{xE2x,.'x+"E }<KG.E-,.$.yxExzE#)
- Research keywords
Electron Beam Lithography Charging Electron Source Electron Scattering Electron Optics Scanning Electron Microscope - Degree
2003-03 博士（工学） 大阪大学 - Academic societies
-- (current) 日本表面真空学会 -- (current) The Japan Society of Applied Physics -- (current) THE PHYSICAL SOCIETY OF JAPAN - Articles
- Comparison of SE emission from alumina and SUS spheres using low vacuum SEM
Yuanzhao Yao; 早田康成; 関口 隆史
81st Annual Meeting of the Japan Society of Microscopy, 2025-06-09 - Acceptance characterization of electron detector in SEM using stainless steel sphere
Sekiguchi Takashi; Yao Yuanzhao; Sonoda Ryosuke; Sohda...
MICROSCOPY/Epub, 2024-10-28 - Electron Source for Scanning Electron Microscope
早田 康成
Vac. Surf. Sci./63(1)/pp.25-29, 2020-01
- Comparison of SE emission from alumina and SUS spheres using low vacuum SEM
- Conference, etc.
- Characterization of secondary electron detector in normal and low vacuum SEM
YAO Yuanzhao; Sonoda Ryosuke; 早田康成; 関口隆史
The 14th International Vacuum Electron Sources Conference/2023-09-25--2023-09-28 - Secondary electron detectors for low vacuum SEM (comparison of UVD and ET detectors)
Yuanzhao Yao; 園田涼輔; 早田康成; 関口 隆史
72nd JSAP Spring Meeting 2025/2025-03-14--2025-03-17 - 球面電子源のクーロン効果シミュレーションにおける仕事関数依存性
早田 康成; 姫田幸毅
2025年第86回応用物理学会春季学術講演会/2025-03-14--2025-03-17 - 走査電子顕微鏡での電子ビームサイズ推定におけるエッジ効果補正
早田 康成; 戸倉大智; 曽雌侑輝
2025年第86回応用物理学会春季学術講演会/2025-03-14--2025-03-17 - 球⾯電⼦源のクーロン効果シミュレーション
早田 康成; 姫田幸毅
2024年第85回応用物理学会秋季講演会/2024-09-16--2024-09-20 - ⾛査電⼦顕微鏡の電⼦ビームサイズ推定⽤試料の提案
早田 康成; 戸倉大智; 曽雌侑輝
2024年第85回応用物理学会秋季講演会/2024-09-16--2024-09-20 - Comparison of SE emission from alumina and SUS spheres using low vacuum SEM
Yuanzhao Yao; 早田康成; 関口 隆史
81st Annual Meeting of the Japan Society of Microscopy/2025-06-09--2025-06-11 - Characteristics of secondary electron emission from insulators analyzed by Al2O3 sphere image
Yuanzhao Yao; 早田康成; 関口 隆史
80th Annual Meeting of the Japan Society of Microscopy/2024-06-03--2024-06-05 - Characterization of secondary electron detector（UVD）in low vacuum SEM
Yuanzhao Yao; 園田涼輔; 早田康成; 関口 隆史
80th Annual Meeting of the Japan Society of Microscopy/2024-06-03--2024-06-05 - 暗視野STEM法によるコリネ菌中のFe分布の観察
早田 康成
顕微鏡学会/2023-06-29--2023-06-30 - SEMにおける斜出射二次電子・反射電子検出の特徴
早田 康成
顕微鏡学会/2023-06-29--2023-06-30 - SEMを使った明視野・暗視野STEM法によるコリネ菌の観察
早田 康成
顕微鏡学会/2022-05-11--2022-05-13 - 走査電子顕微鏡用電子源
早田 康成
日本表面真空学会 2019 年6 月研究例会「電子ビーム技術の新展開」/2019-06-25
- Characterization of secondary electron detector in normal and low vacuum SEM
- Teaching
2024-11 -- 2024-12 Electromagnetism 2 University of Tsukuba. 2024-04 -- 2024-07 Electromagnetism I University of Tsukuba. 2024-04 -- 2024-07 Scanning Electron Microscope University of Tsukuba. 2023-04 -- 2023-07 現代物理と先端工学 筑波大学 2023-07 -- 2023-08 応用物理工学概論 筑波大学 2022-04 -- 2022-07 電磁気学Ⅰ 筑波大学 2023-11 -- 2023-12 Electromagnetism 2 University of Tsukuba. 2023-04 -- 2023-08 Laboratories Research University of Tsukuba. 2023-10 -- 2024-02 Laboratories Research University of Tsukuba. 2023-10 -- 2024-02 Laboratories Research University of Tsukuba. more... - Professional activities
-- (current) 表面真空学会 真空部会 -- (current) MNC論文委員会 -- (current) PMJ論文委員会
(Last updated: 2025-08-18)