佐野 伸行(サノ ノブユキ)
- 所属
- 数理物質系
- 職名
- 教授
- URL
- 研究分野
電子デバイス・電子機器 計算科学 数理物理・物性基礎 - 研究キーワード
非平衡統計物理 量子電子輸送 ナノテクノロジー 電子デバイス デバイス物理 深層学習 モンテカルロ法 散乱理論 非平衡グリーン関数法 デバイスシミュレーション - 研究課題
局所的ポテンシャル揺らぎを反映する微視的手法によるナノデバイスシミュレータの構築 2022-04 -- 2025-03 佐野 伸行 日本学術振興会/基盤研究(B) 15,860,000円 ナノデバイス物理モデリング・デバイスシミュレーション 2019 -- 2020 佐野伸行 キオクシア(東芝メモリー)/ 2,860,000円 次世代の産業を支える新機能デバイス・高性能材料の創生 2018 -- 2020 佐野伸行 文部科学省/ポスト「京」で重点的に取り組むべき 社会的・科学的課題に関するアプリケーション開発・研究開発 14,100,000円 単原子層FETデバイスにおける電子間クーロン相互作用と室温動作特性の予測 2015-04 -- 2018-03 佐野伸行 日本学術振興会/基盤研究(B) 16,380,000円 次世代の産業を支える新機能デバイス・高性能材料の創生 2015 -- 2017 佐野伸行 文部科学省/ポスト「京」で重点的に取り組むべき 社会的・科学的課題に関する アプリケーション開発・研究開発 立体型ナノスケール素子におけるクーロン相互作用の影響と現実的な特性解析 2012-04 -- 2015-03 佐野伸行 日本学術振興会/基盤研究(B) 18,330,000円 ナノスケール素子における長距離クーロン相互作用のシミュレーションによる研究 2009 -- 2011 佐野伸行 日本学術振興会/基盤研究(B) 17,550,000円 宇宙線中性子起因ソフトエラーシミュレーションに関する研究 2008-04 -- 2010-03 佐野伸行 株式会社 半導体理工学研究センター/企業からの受託研究 経済産業省ナノエレクトロニクス・プロジェクト「半古典輸送と量子輸送を融合したナノデバイス・シミュレーションの研究開発」 2007-10 -- 2011-03 佐野伸行 産業技術総合研究所/その他 ナノスケール素子における高濃度電子輸送の3次元粒子シミュレーションによる研究 2006 -- 2008 佐野伸行 日本学術振興会/基盤研究(B) 15,610,000円 さらに表示... - 職歴
2019 -- 2019 イタリア モデナ・レッジョ-エミリア大学物理学科招聘教授 2019 -- 2019 イタリア ボローニャ大学電子工学科招聘教授 2007 -- (現在) 筑波大学物理工学域教授 2002 -- 2007 筑波大学物理工学系助教授 1995 -- 2002 筑波大学物理工学系講師 1988 -- 1995 日本電信電話(株) 厚木電気通信研究所研究員 - 学歴
-- 1988-08 米国Auburn大学大学院 物理学研究科 理論物理学 - 取得学位
1988-08 Ph.D. 米国Auburn大学 - 所属学協会
1984 -- (現在) American Physical Society 2013 -- (現在) IEEE - 受賞
1992 日本電信電話株式会社 研究所所長表彰 1988 Outstanding Research Award (Auburn University) - 論文
- Self-Consistent Monte Carlo Device Simulation of Capture-Excitation Processes of Carrier
Sano Nobuyuki
2023 International Conference on Simulation Semiconductor Processes and Devices (SISPAD2023)/pp.1-4, 2023-09-27 - Shallow p-n Junctions under Discrete Impurities in Semiconductor Devices
Sano Nobuyuki
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES/ED-71/pp.965-970, 2024-02 - 半導体デバイスモデリング講座
佐野 伸行
ソニー特別講義, 2022-08-23 - 半導体デバイスにおける物理モデリングとシミュレーションの現状とその意味
佐野 伸行
ソニー 講演会, 2022-08-04 - Fundamental Aspects of Semiconductor Device Modeling Associated With Discrete Impurities: Monte Carlo Simulation Scheme
Sano Nobuyuki; Fukui Takayuki
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES/68(11)/pp.5394-5399, 2021-11 - Quantum kinetic equation for the Wigner function and reduction to the Boltzmann transport equation under discrete impurities
Sano Nobuyuki
PHYSICAL REVIEW E/104(1), 2021-07 - Ambipolar device simulation based on the drift- diffusion model in ion-gated transition metal dichalcogenide transistors
Ueda Akiko; Zhang Yijin; Sano Nobuyuki; Imamura Hiroshi; ...
npj Computational Materials/6/pp.24-1, 2020-03 - Effect of the double grading on the internal electric field and on the carrier collection in CIGS solar cells
Lafuente-Sampietro Alban; Yoshida Katsuhisa; Wang Shengh...
Solar Energy Materials and Solar Cells/223/p.110948, 2020-12 - Potential application of p-i-n semiconductor capacitor with non-linear voltage-charge characteristic for secondary battery
Yoshida Katsuhisa; Sano Nobuyuki
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS/128(9), 2020-09 - Fundamental Aspects of Semiconductor Device Modeling Associated With Discrete Impurities: Drift-Diffusion Simulation Scheme
Sano Nobuyuki; Yoshida Katsuhisa; Tsukahara Kohei; Park ...
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES/67(8)/pp.3323-3328, 2020-08 - Polarization Effect due to Discreteness of Dopants in Nano-Scale MOSFETs
Yoshida Katsuhisa; Tsukahara Kohei; Sano Nobuyuki
IEEE Trans. Electron Dev./ED-66(10)/pp.4343-4347, 2019-08 - Monte Carlo simulation of random dopant fluctuation in C-V characteristics using image charge model and adequately determined length scale
Chih-Wei Yao; Sano Nobuyuki; Watanabe Hiroshi
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS/58(9), 2019-09 - Physics of Discrete Impurities under the Frameworkof Device Simulations for Nanostructure Devices
Sano Nobuyuki; Yoshida Katsuhisa; Yao Chih-Wei; Watanabe ...
Materials (Basel, Switzerland)/11(12), 2018-12 - Determination of band profiles in GaN films using hard X-ray photoelectron spectroscopy
Sano Nobuyuki; Saito Shinji
Jpn. J. Appl. Phys./p.0210003, 2017 - Magnetization and spin-polarized conductance of asymmetrically hydrogenated graphene nanoribbons: significance of sigma bands
Honda Syuta; Inuzuka Kouhei; Inoshita Takeshi; Ota No...
JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS/47(48), 2014-12 - Effect of dynamical Coulomb interaction on junctionless transistor performance: Monte Carlo study of plasmon excitations
Yoshida Katsuhisa; Shibamiya Toru; Sano Nobuyuki
APPLIED PHYSICS LETTERS/105(3), 2014-07 - Surface Potential-Based Polycrystalline-Silicon Thin-Film Transistors Compact Model by Nonequilibrium Approach
Ikeda Hiroyuki; Sano Nobuyuki
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES/60(10:::SI)/pp.3417-3423, 2013-10 - Multi-Scale Monte Carlo Simulation of Soft Errors Using PHITS-HyENEXSS Code System
Sano Nobuyuki
IEEE Transactions on Nuclear Science/NS-59/pp.965-970, 2013-08 - One-flux theory of saturated drain current in nanoscale transistors
Tang Ting-wei; Fischetti Massimo V.; Jin Seonghoon; Sano ...
SOLID-STATE ELECTRONICS/78(SI)/pp.115-120, 2012-12 - Device simulation of intermediate band solar cells: Effects of doping and concentration
Katsuhisa Yoshida; Yoshitaka Okada; Sano Nobuyuki
J. Appl. Phys./112/p.084510, 2012-10 - Multi-Scale Monte Carlo Simulation of Soft Errors Using PHITS-HyENEXSS Code System
Abe Shin-ichiro; Watanabe Yukinobu; Shibano Nozomi; Sano ...
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE/59(4:Part 1)/pp.965-970, 2012-08 - Applicability of Nuclear Reaction Models Implemented in PHITS to Simulations on Single-event Effects
Abe S.; Hirayama S.; Watanabe Y.; Sano N.; Tosaka Y.; Tsu...
JOURNAL OF THE KOREAN PHYSICAL SOCIETY/59(2:Part 3 Sp. Iss. SI)/pp.1443-1446, 2011-08 - Monte Carlo Study of the Coulomb Interaction in Nanoscale Silicon Devices
Sano Nobuyuki
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS/50(1)/pp.10108-010108-6, 2011-01 - Quasi-Ballistic Transport in Nano-Scale Devices: Boundary Layer, Potential Fluctuation, and Coulomb Interaction
Nobuyuki Sano; Takahiko Karasawa
Key Engineering Materials/470/p.207-213, 2011-01 - Pinch-Off Voltage Lowering in Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors
Ikeda Hiroyuki; Sano Nobuyuki
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS/50(1)/pp.0-0, 2011-01 - さらに表示...
- Self-Consistent Monte Carlo Device Simulation of Capture-Excitation Processes of Carrier
- 著書
- Space-Average Impurity-Limited Resistance and Self-Averaging in Quasi-1D Nanowires
Sano Nobuyuki
2016 JOINT INTERNATIONAL EUROSOI WORKSHOP AND INTERNATIONAL CONFERENCE ON ULTIMATE INTEGRATION ON SILICON (EUROSOI-ULIS 2016)/IEEE/pp.60-63, 2016 - A Theoretical Study on Dielectric Breakdown
佐野 伸行
1988-08 - シミュレーション工学
佐野 伸行
2000 - デバイスシミュレーション序論・実習
佐野 伸行
2009 - 計算機実習
佐野 伸行
2009 - Monte Corlo Simulation of Ionization Phenomena in Si-MOSFET's
佐野 伸行
1991-01 - Nonlocality of Impact Ionization Processes under Inhomogeneous Electric Fields : A Full-Band Monte Carlo Approach
佐野 伸行
1993-01 - Quasi-Ballistic Transport in Nano-Scale Devices: Boundary Layer, Potential Fluctuation, and Coulomb Interaction
Sano Nobuyuki; Karasawa Takahiko
TECHNOLOGY EVOLUTION FOR SILICON NANO-ELECTRONICS/TRANS TECH PUBLICATIONS LTD/pp.207-213, 2011-01 - Effects of gate-edge metamorphoses (GEM) on device characteristics of scaled MOSFETs
Yamada Tatsuya; Sano Nobuyuki
2007 INTERNATIONAL SEMICONDUCTOR DEVICE RESEARCH SYMPOSIUM, VOLS 1 AND 2/IEEE/pp.78-79, 2007-01 - 3D Monte Carlo simulation including full Coulomb interaction under high electron concentration regimes
Uechi Tadayoshi; Fukui Takayuki; Sano Nobuyuki
PHYSICA STATUS SOLIDI C - CURRENT TOPICS IN SOLID STATE PHYSICS, VOL 5, NO 1/WILEY-V C H VERLAG GMBH/pp.102-106, 2008-01 - Self-Consistent Monte Carlo Device Simulations under Nano-Scale Device Structures: Role of Coulomb interaction, Degeneracy, and Boundary Condition
Nakanishi Kohei; Uechi Tadayoshi; Sano Nobuyuki
2009 IEEE INTERNATIONAL ELECTRON DEVICES MEETING/IEEE/pp.71-74, 2009-01
- Space-Average Impurity-Limited Resistance and Self-Averaging in Quasi-1D Nanowires
- 会議発表等
- Self-Consistent Monte Carlo Device Simulation of Capture-Excitation Processes of Carrier
F.Hashimoto; T.Suzuki; H.Minari; N.Nakazaki; J.Komachi; S...
2023 International Conference on Simulation Semiconductor Processes and Devices (SISPAD2023)/2023-09-27--2023-09-29 - キャリアの捕獲・励起過程を導入した自己無撞着 モンテカルロデバイスシミュレーション
佐野 伸行
シリコン材料・デバイス(SDM)研究会集会/2023-11-09--2023-11-10 - Effect of the double grading on the electric field and the generation rate in Cu(In,Ga)Se2 solar cells
A. Lafuente-Sampietro K. Yoshida; 秋本克洋; Sano Nobuyuki; SAK...
The 29th Photovoltaic Science and Engineering Conference (PVSEC29)/2019-11-07 - Science and Education at the University of Tsukuba, Japan
Sano Nobuyuki
Special Seminar at the School of Engineering and Architecture/2019-05-30--2019-05-30 - Science and Education at the University of Tsukuba, Japan
Sano Nobuyuki
Special Seminar at the Department of Physics/2019-05-16--2019-05-16 - Self-Consistent Monte-Carlo Simulations for Modern Electron Devices
Sano Nobuyuki
nternational Conference on Solid State Materials and Devices (SSDM-2016)/2016-09-26--2016-09-29 - 不純物の離散性に伴った半導体デバイスモデリングの基本的側面 ~ランダム不純物ばらつきと自己平均化~
佐野 伸行
電子情報通信学会 シリコン材料・デバイス(SDM)研究会集会/2017-11-09--2017-11-10 - Fundamental Aspects of Discrete Impurity Model for Nano-Scale Device Simulations
Sano Nobuyuki
Seminar on Noise and Reliability in Silicon Electronics/2017-11-01--2017-11-01 - モンテカルロ・デバイスシミュレーションの基本的側面と応用
佐野 伸行
第3回CDMSI(ポスト「京」重点課題(7))シンポジウム/2017-12-05--2017-12-06 - 微細構造デバイスシミュレーションにおける局所的な乱れによるポテンシャルゆらぎの物理的側面
佐野 伸行
第65回応用物理学会春季学術講演会 シンポジウム「デバイスシミュレーション技術の活用と将来展望」/2018-03-17--2018-03-20 - 不純物の離散性に伴った半導体デバイスモデリングの基本的側面 II ~半導体ナノ構造でのランダム不純物~
佐野 伸行
電子情報通信学会 シリコン材料・デバイス(SDM)研究会集会/2019-11-07--2019-11-08 - Polarization Effect Induced by Discrete Impurity at Semiconductor/Oxide Interface in Si-FinFET
Sano Nobuyuki
2019 International Conference on Simulation Semiconductor Processes and Devices (SISPAD2019)/2019-09-04--2019-09-07 - Variability and Self-Average of Impurity-limited Resistance in Semiconductor Nanowires
Sano Nobuyuki
7th Annual World Congress of Nano Science & Technology-2017/2017-10-24--2017-10-26 - Physical Issues in Device Modeling: Length-Scale, Disorder, and Phase Interference
Sano Nobuyuki
International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD)/2017-09-07--2017-09-09 - Large Mobility Modulation Due to Discrete Impurities in Nanowires
Sano Nobuyuki
Symposium on Semiconductors, Dielectrics, and Metals for Nanoelectronics 14 held during the PRiME Joint Int Meeting of The Electrochemical-Society, The Electrochemical-Society-of-Japan, and the Korean-Electrochemical-Society/2016-10-02--2016-10-07 - Role of Coulomb Interaction in Nanoscale MOSFETs: A Theoretical Viewpoint
佐野 伸行
International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD-2014) Workshop/2010-09-08--2010-09-11 - Role of Coulomb Interaction in Nanoscale MOSFETs: A Theoretical Viewpoint
佐野 伸行
International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD-2014) Workshop/2014-09-08--2014-09-11 - Effect of Impurity Scattering on Mobility in Si Nanowire Junctionless FETs
佐野 伸行
International Workshop on Computational Electronics (IWCE-17)/2014-06-03--2014-06-06 - Monte Carlo Study of the long-range Coulomb interaction for Junctionless Transistors
佐野 伸行
International Workshop on Computational Electronics (IWCE-17)/2014-06-03--2014-06-06 - Multi-Scale Monte Carlo Simulation of Soft Errors Using PHITS-HyENEXSS Code System
Abe Shin-ichiro; Watanabe Yukinobu; Shibano Nozomi; Sano ...
Conference on Radiation Effects on Components and Systems (RADECS)/Radiation Effects Data Workshop/2011-09-19--2011-09-23 - Quasi-Ballistic Transport in Nano-Scale Devices: Boundary Layer, Potential Fluctuation, and Coulomb Interaction
Sano Nobuyuki; Karasawa Takahiko
International Symposium on Technology Evolution for Silicon Nano-Electronics/2010-06-03--2010-06-05 - Effects of gate-edge metamorphoses (GEM) on device characteristics of scaled MOSFETs
Yamada Tatsuya; Sano Nobuyuki
International Semiconductor Device Research Symposium/2007-12-12--2007-12-14 - 3D Monte Carlo simulation including full Coulomb interaction under high electron concentration regimes
Uechi Tadayoshi; Fukui Takayuki; Sano Nobuyuki
15th International Conference on Nonequilibrium Carrier Dynamics in Semiconductors/2007-10-8--2007-10-10
- Self-Consistent Monte Carlo Device Simulation of Capture-Excitation Processes of Carrier
- 担当授業科目
2024-10 -- 2025-02 理工融合セミナーIII 筑波大学 2024-04 -- 2024-08 理工融合セミナーIII 筑波大学 2024-10 -- 2025-02 ナノサイエンス・ナノテクノロジー特別研究IIA 筑波大学 2024-04 -- 2024-08 ナノサイエンス・ナノテクノロジー特別研究IIIB 筑波大学 2024-04 -- 2024-08 ナノサイエンス・ナノテクノロジー特別研究IA 筑波大学 2024-10 -- 2025-02 ナノサイエンス・ナノテクノロジー特別研究IB 筑波大学 2024-10 -- 2025-02 産学連携セミナーIII 筑波大学 2024-04 -- 2024-08 産学連携セミナーIII 筑波大学 2024-10 -- 2025-02 ナノサイエンス・ナノテクノロジー特別研究IA 筑波大学 2024-10 -- 2025-02 理工融合セミナーII 筑波大学 さらに表示... - 授業以外の教育活動
2022-08 -- 2022-09 ソニー 半導体デバイスモデリング講座 ソニー 2019-02 -- 2019-09 イタリア モデナ大学 (物理学科講義) Transport Phenomena in Semiconductors and Nanostructures イタリア モデナ大学 2019-05 -- 2019-05 イタリア ボローニャ大学 特別セミナー イタリア ボローニャ大学 2011-06 -- 2017 国立交通大学 特別講義 「Quantum Transport Theory: A Simple Application of Nonequilibrium Green Functions」 台湾 国立交通大学 2010-12 -- 2016-05 国立交通大学 特別セミナー 台湾 国立交通大学 2006-06 -- 2006-06 米国 マサチューセッツ大学 集中講義(電子工学科) 「Many-Partcile Quantum Theory of Electron Transport」 米国 マサチューセッツ大学 2005-08 -- 2006-08 文部科学省ナノテクノロジーサマースクール「量子効果素子の物理」 学外 - 一般講演
- 半導体デバイスにおける物理モデリングとシミュレーションの現状とその意味
佐野 伸行
ソニー 講演会/2022-08-04--2022-08-04 - ナノデバイスのシミュレーョン:なぜ、モンテカルロ法か?
佐野 伸行
第60回応用物理学会春季学術講演会 シンポジウム「半導体モデリング・シミュレーションの現状と将来展望」/2013-03-27 - 大学院連携WG~筑波大学オナーズプログラムからTIA連携大学院への展開~
村上浩一; 佐野伸行
第2回つくばイノベーションアリーナ(TIA-nano)公開シンポジウム/2011-11-25 - Past and Future of Theory and Simulation for Semiconductor Devices
Nobuyuki Sano
JST, NSF, MEST and NSC US-Japan-Korea-Taiwan Workshop/2010-07-26 - 極微細シリコンナノデバイスにおける電流ゆらぎとその物理的起源
佐野 伸行
電気学会調査専門委員会/2011-07-29 - The Role of High-Doped Source and Drain on Device Performance in Nano-Scale Si-MOSFETs
佐野 伸行
2011 International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai (IMFEDK)/2011-05-19 - Electron Kinetic Transport under Localized Impurities: How Could Localized Impurities be Incorporated in Simulations?
Nobuyuki Sano
9-th IMACS Seminar on Monte Carlo Methods (MCM-2003)/2003-09-15 - Electron Transport and Particle-based Simulations for Nanoscale Semiconductor Devices
Nobuyuki Sano
2005 International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai/2005-04-11 - Electron Transport in Nanoscale Semiconductor Devices: Ballistic vs. Quasiballistic
Nobuyuki Sano
2005 VLSI-TSA Technology Symposium/2005-04-25 - SiナノワイヤFETのモンテカルロシミュレーション
佐野 伸行
応用物理学会シンポジウム「2020~30年代のナノエレクトロニクスデバイスの本命を考える」/2010-03-19 - ナノスケールMOSFETにおける電子輸送機構とデバイスシミュレーション
佐野 伸行
応用物理学会シンポジウム「半導体のプロセス・デバイス・回路のモデリングとシミュレーション」/2010-03-17 - Quasi-Ballistic Transport in Nano-Scale Devices: Boundary Layer, Potential Fluctuation, and Coulomb Interaction
Nobuyuki Sano
International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD-2010)/2010-09-06 - Scaling FETs to 10 nm: Coulomb Effects, Source Starvation, and Virtual Source
M.V.Fischetti; S. Jin; T.-w. Tang; P. Asbeck; Y. Taur; S. ...
217th ECS Meeting/2010-04-25 - Simulation of Electron Transport in Si Nano Devices
Nobuyuki Sano
G-COE PICE International Symposium on Silicon Nano Devices in 2030 - Prospects by World's Leading Scientists/2009-10-13 - Scaling FETs to 10 nm: Coulomb Effects, Source Starvation, and Virtual Source
M.V.Fischetti; S. Jin; T.-w. Tang; P. Asbeck; Y. Taur; S. ...
International Workshop on Computational Electronics (IWCE-13)/2009-05-27 - ナノスケール・デバイス構造での電子輸送とポテンシャル揺らぎ
佐野 伸行
特定領域研究「シリコンナノエレクトロニクスの新展開―ポストスケーリングテクノロジー」第3回 成果報告会/2009-01-28 - 少数電子で動く未来デバイスの姿 -デバイスシミュレーションからのメッセージ-
佐野 伸行
応用物理学会シンポジウム「ポストスケーリング時代をデバイス・物性物理から斬る -これが半導体デバイスの未来像だ-」/2009-04-01 - Impact of the Coulomb Interaction on Nano-scale Device Characteristics: A Monte Carlo Study
Nobuyuki Sano
IEEE EDS Mini-colloquium for Nano CMOS and Nanowire/2009-02-21 - IEDM2007報告会 モデリング・シミュレーション・セッション
佐野伸行
IEEE EDチャプター/2008-01-14 - ナノデバイスでの微視的揺らぎと電子輸送、そしてデバイス特性ばらつき
佐野伸行
特定領域研究「シリコンナノエレクトロニクスの新展開―ポストスケーリングテクノロジー」/2008-03-07 - 3次元モンテカルロ・シミュレーションによる縮退電子のクーロン相互作用の導入
福井貴之; 上地忠良; 佐野伸行
応用物理学会シンポジウム「半導体のプロセス・デバイス・回路のモデリングとシミュレーション」/2008-03-28 - 3D Monte Carlo Simulations of Nano-scale Devices: Impact of Coulomb Interaction on Device Characteristics
Nobuyuki Sano; Tadayoshi Uechi; Takayuki Fukui
Technical Seminar, International Conference on Solid State Materials and Devices (SSDM-2008)/2008-09-23 - 電子デバイスにおける特性ばらつきの物理的起源
佐野伸行
学振第154委員会 第42回研究会/2003-06-01 - 微細MOSFETでの離散不純物に伴った巨視的ポテンシャルと微視的ポテンシャル
三浦真澄; 佐野伸行
応用物理学会シンポジウム/2004-03-29 - High-k導入に伴った極微細素子構造での揺らぎと輸送機構
佐野伸行
誘電体薄膜集積技術調査専門委員会/2004-12-20 - さらに表示...
- 半導体デバイスにおける物理モデリングとシミュレーションの現状とその意味
- 学協会等委員
2019 -- 2021 文部科学省 大学設置分科会専門委員会(専門職大学(工業))/主査 2019 -- 2021 文部科学省 大学設置分科会専門委員会(工学) 2017 -- 2018 文部科学省 工学系教育の在り方に関する調査研究WG 2011 -- 2011 新エネルギー・産業技術総合開発機構 MIRAIプロジェクト評価委員 2008 -- 2013 Japanese Journal of Applied Physics 編集委員 2007 -- 2008 IEDMプログラム委員 2006 -- 2007 SSDM-2007 実行委員 2006 -- (現在) HCIS プログラム委員、実行委員 2003 -- (現在) 応用物理学会シリコンテクノロジー分科会 常任理事 2003 -- 2018 Chair, Program Committee (SISPAD-2005) さらに表示... - 学内管理運営業績
2024-04 -- (現在) 教育および入試改革プロジェクト会議 2022-04 -- 2023-03 応用理工学類運営委員 応用理工学類電子・量子工学主専攻主任 2020-04 -- 2024-03 教学マネジメント室運営会議 2019-04 -- (現在) 総合学域群運営委員 アカデミックアドバイザー 2018-04 -- (現在) 入試改革検討委員会 2018-04 -- 2021-03 副学長(教育担当)補佐 2017-04 -- 2019-03 学長補佐 2016-04 -- 2021-03 総合理工学位プログラム運営委員長 2016-04 -- 2018-03 理工学群長 2012-04 -- 2014-03 応用理工学類長 さらに表示...
(最終更新日: 2024-11-01)