UMEDA Takahide

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Research projects
電子的欠陥評価ーDRAMトランジスタの接合リーク電流原因解析2012-10 -- 2013-03梅田享英エルピーダメモリ株式会社/共同研究・受託研究2,500,000Yen
電子的欠陥評価技術ーDRAMトランジスタのリーク電流解析2010-04 -- 2012-09梅田享英エルピーダメモリ株式会社/共同研究・受託研究5,000,000Yen
電子的欠陥評価ーDRAMトランジスタの接合リーク電流原因解析2009-04 -- 2010-03梅田享英エルピーダメモリ株式会社/共同研究・受託研究7,500,000Yen
Sub-0.1um世代先端DRAMにおける点欠陥評価の研究2007-04 -- 2008-03梅田享英日本電気株式会社・エルピーダメモリ株式会社/企業からの受託研究1,050,000Yen
格子欠陥物性の解明に関する研究2008-04 -- 2009-03梅田享英日本電気株式会社・NEDO/企業からの受託研究3,622,500Yen
電流検出電子スピン共鳴法によるシリコン微細デバイスの２値現象の観察　　　　　　　2006 -- 2007藤ノ木（梅田）享英Japan Society of for the Promotion of Science/若手研究(B)3,400,000Yen
微細電子デバイス中の点欠陥に対する超高感度電子スピン共鳴スペクトロスコピーの研究2005 -- 2006藤ノ木（梅田）享英Japan Society of for the Promotion of Science/若手研究(B)3,900,000Yen
Research and development of knowledge integrated services in academic communities.2004-09 -- 2011-03/The Other Research Programs
Characterization on point defects in Si LSIs2003 -- 2006日本電気株式会社/企業からの受託研究4,200,000Yen
電子スピン共鳴法によるシリコン系半導体表面層での表面反応のその場観察1998 -- 1999Japan Society of for the Promotion of Science/特別研究員奨励費1,800,000Yen
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