UMEDA Takahide
- Research projects
Characterization on point defects in Si LSIs 2003 -- 2006 日本電気株式会社/企業からの受託研究 4,200,000Yen Sub-0.1um世代先端DRAMにおける点欠陥評価の研究 2007-04 -- 2008-03 梅田享英 日本電気株式会社・エルピーダメモリ株式会社/企業からの受託研究 1,050,000Yen Characterization of degradations and defects in electronics devices 1999 -- (current) / Research and development of knowledge integrated services in academic communities. 2004-09 -- 2011-03 /The Other Research Programs 電流検出電子スピン共鳴法によるシリコン微細デバイスの2値現象の観察 2006 -- 2007 藤ノ木(梅田)享英 Japan Society of for the Promotion of Science/若手研究(B) 3,400,000Yen 微細電子デバイス中の点欠陥に対する超高感度電子スピン共鳴スペクトロスコピーの研究 2005 -- 2006 藤ノ木(梅田)享英 Japan Society of for the Promotion of Science/若手研究(B) 3,900,000Yen 電子スピン共鳴法によるシリコン系半導体表面層での表面反応のその場観察 1998 -- 1999 Japan Society of for the Promotion of Science/特別研究員奨励費 1,800,000Yen 炭化ケイ素(SiC)MOS界面準位の起源と移動度劣化メカニズムの分光学的解明 2013 -- 2015 藤ノ木(梅田)享英 Japan Society for the Promotion of Science/基盤研究(B) 18,720,000Yen