佐々木 正洋(ササキ マサヒロ)
- 論文
- 微視的表面物性評価と電界放出ディスプレイ
佐々木正洋
月刊ディスプレイ/14(9)/p.10-17, 2008-09 - Surface Diffusion Promoted by Translational Energy of Incident Molecules
Yuta Yokoyama; Ryuta Okada; Tsuyoshi Hori; Chihiro Sugaw...
4th Vacuum and Surface Sciences Conference of Asia and Australia (VASSCAA-4), Matsue, Japan, 2008-10 - Nanometer Scale Distributions of Field Emission Current from Carbon Materials without Nano-protrusions
S. Nagashima; S. Ogata; and M. Sasaki; +佐々木 正洋
Proceeding of the 15th International Display Workshops (IDW’08)/p.2068-2072, 2008-12 - Nanometer-scale distribution of field emission current from the arc-prepared carbon thin film (invited)
S. Nagashima; S. Fujita; Y. Yamada; M. Sasaki (speaker); ...
The 22nd International Vacuum Nanoelectronics Conference, 2009-07 - Revealing real images of cloverleaf pattern emission sites by using field ion microscopy
Yoichiro Neo; Takahiro Matsumoto; Makoto Tomita; Masahiro...
J. Vac. Sci. Technol. B/28/p.C2A1-C2A4, 2010-02 - STM-based observations of the arc-prepared carbon thin film to clarify the mechanism of the low macroscopic field emission
Masahiro Sasaki
The 2nd Japan-Korea Vacuum Nanoelectronics Workshop, 2010-03 - Ba含浸カソードを用いた電子管のイオン衝撃によるエミッション低下現象のシミュレーション
樋口敏春; 佐々木正洋; 松本修二; 福田茂樹
電子情報通信学会技術研究報告 ED2011-62/111/p.248-, 2011-10 - Necessary Conditions for Two-Lobe Patterns in Field Emission Microscopy
Neo Yoichiro; Matsumoto Takahiro; Tomita Makoto; Sasaki ...
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS/51(11:Part 1)/pp.115601-115601-4, 2012-11 - GaAs表面再構成構造とトリメチルガリウムの表面反応
佐々木 正洋; 吉田 清輝
表面科学/18(12)/pp.796-802, 1997-12 - 材料表面の電子物性計測と真空
佐々木 正洋; 山本 恵彦
電気学会誌 = The journal of the Institute of Electrical Engineers of Japan/121(6)/pp.370-372, 2001-06 - 局所トンネル障壁高さ計測
山田 洋一; スィンサップ アッサウィン; 佐々木 正洋; 山本 恵彦
真空/45(6)/pp.503-507, 2002-06 - Ordering of C_<60> on One-Dimensional Template of Single-Domain Ge(110)-16×2 and Si(110)-16×2 Surfaces
YOKOYAMA Yuta; SINSARP Asawin; YAMADA Yoichi; ASAOKA Hid...
Applied physics express/5(2)/pp.25203-1, 2012-02 - Ba含浸カソードを用いた電子管のイオン衝撃によるエミッション低下現象のシミュレーション(電子管と真空ナノエレクトロニクス及びその評価技術)
樋口 敏春; 佐々木 正洋; 松本 修二; 福田 茂樹
電子情報通信学会技術研究報告. ED, 電子デバイス/111(248)/pp.11-16, 2011-10 - Hydrogen adsorption on electron-doped C(60) monolayer on Cu(111) studied by He atom scattering
Yamada Y.; Satake Y.; Watanabe K.; Yokoyama Y.; Okada R....
PHYSICAL REVIEW B/84(23), 2011-12 - Electronic Modification of C-60 Monolayers via Metal Substrates
Yamada Yoichi; Yamada Shuntaro; Nakayama Takuto; Sasaki ...
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS/50(8:Part 4 Sp. Iss. SI), 2011-08 - The determination of the thickness of the silicon oxide film by synchrotron radiation x-ray photoelectron spectroscopy (SR-XPS) analysis
Imamura M.; Matsubayashi N.; Fan J.; Kojima I.; Sasaki M.
MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY/22(2)/pp.0-0, 2011-02 - Pt(111)表面での単原子層グラファイト形成におけるCH_4分子線並進エネルギーの影響
植田 寛和; 才田 守彦; 中井 力; 山田 洋一; 佐々木 正洋; 山本 恵彦
真空 = JOURNAL OF THE VACUUM SOCIETY OF JAPAN/47(7)/pp.544-549, 2004-07 - 古くて新しい仕事関数
佐々木 正洋; 土佐 正弘
應用物理/75(1)/pp.106-107, 2006-01 - 純古典的2体剛体衝突モデルに基づく固体表面での分子線非弾性散乱の解析
近藤 剛弘; 森 大輔; 岡田 隆太; 佐々木 正洋; 加藤 浩之; 山田 太郎; 山本 恵彦; 川合 眞紀
表面科学 = Journal of The Surface Science Society of Japan/27(7)/pp.392-400, 2006-07 - Localized and Delocalized Features of Microscopic Work Functions
Sasaki Masahiro; Yamamoto Shigehiko
真空/50(5)/pp.313-318, 2007-01 - 第48回真空に関する連合講演会開催報告
杉山 直治; 佐々木 正洋
真空/51(3)/pp.232-233, 2008-03 - クローバーリーフパターンの起源究明 : 電界放射・イオン顕微鏡によるクローバーリーフパターンの解析(電子管と真空ナノエレクトロニクス及びその評価技術)
根尾 陽一郎; 松本 貴裕; 冨田 誠; 佐々木 正洋; 青木 徹; 三村 秀典; 横尾 邦義
電子情報通信学会技術研究報告. ED, 電子デバイス/109(230)/pp.27-32, 2009-10 - Scattering of low-energy ions from the surface of a W(211) single crystal
Markin S. N.; Ermolov S. N.; Sasaki M.; van Veltsenis R....
PHYSICS OF METALS AND METALLOGRAPHY/102(3)/pp.274-278, 2006-09 - Local tunneling barrier height observations on Ni3Al(111)
Sasaki Masahiro; Saida Morihiko; Ogata Satoshi
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS/46(8B)/pp.5611-5613, 2007-08 - Atomistic Field Emission Distributions of Highly Oriented Pyrolytic Graphite Surfaces with Defects
Nagashima Shinya; Ogata Satoshi; Yamada Yoichi; Sasaki M...
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS/48(8:Part 3 Sp. Iss. SI)/pp.0-0, 2009-08 - さらに表示...
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