重川 秀実(シゲカワ ヒデミ)

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会議発表等
  • 光路切り替え型時間分解STMの開発
    重野 将弥; 岸澤 利彦; 吉田 昭二; 武内 修; 重川 秀実
    2013年 第74回応用物理学会秋季学術講演会/2013-09-16--2013-09-20
  • 有機太陽電池の局所構造と性能
    落合貴大; 安田剛; 竹内紀晶; 吉田昭二; 武内修; 重川 秀実
    2013年 第74回応用物理学会秋季学術講演会/2013-09-16--2013-09-20
  • 多探針STM用走査トンネルポテンショメトリーの開発
    甲山智規; 茂木裕幸; L. Bolotov; 三成剛生; 武内修; 重川 秀実
    2013年 第74回応用物理学会秋季学術講演会/2013-09-16--2013-09-20
  • STM Studies on Organic Electronic Devices
    O. Takeuchi; T. Ochiai; T. Koyama; S. Yoshida; T. Minari; T. Y...
    2013 Tsukuba Nanotechnology Symposium (TNS’13)/2013-07-26--2013-07-27
  • Nanoscale Evaluation of Electric Properties in Novel Devices
    O. Takeuchi; T. Ochiai; T. Koyama; S. Yoshida; H. Shigekawa
    2013 Tsukuba Nanotechnology Symposium (TNS’13)/2013-07-26--2013-07-27
  • STMを用いた局所光物性計測
    武内修; 吉田昭二; 重川 秀実
    ナノフォトニクスシンポジウム「ナノフォトニクスにおける複雑性・多様性と機能」/2013-07-17--2013-07-18
  • 有機太陽電池のナノスケール特性評価
    落合貴大; 竹内紀晶; 吉田昭二; 武内修; 重川 秀実
    ナノ学会第11回大会-異分野研究者間の交流を目指して-/2013-06-06--2013-06-08
  • 多探針STMによるSTMポテンショメトリー
    甲山智規; 茂木裕幸; 武内修; 重川 秀実
    ナノ学会第11回大会-異分野研究者間の交流を目指して-/2013-06-06--2013-06-08
  • 分子接合制御と単一分子伝導スイッチ
    中村美紀; 吉田昭二; 中村徹; 目良裕; 武内修; 重川 秀実
    ナノ学会第11回大会-異分野研究者間の交流を目指して-/2013-06-06--2013-06-08
  • 光学的ポンププローブSTM・時間分解スペクトルのシミュレーション解析
    目良 裕; 重川 秀実; 横田統徳; 吉田昭二; 武内修
    ナノ学会第11回大会-異分野研究者間の交流を目指して-/2013-06-06--2013-06-08
  • Nanoscale dynamics probed by laser-combined scanning tunneling microscopy
    Shigekawa Hidemi; Yoshida Shoji; Takeuchi Osamu; Aoyama ...
    7th International Conference on Nano-Molecular Electronics (ICNME2006)
  • Nanoscale mapping of built-in potential in GaAs p-n junction using light-modulated scanning tunneling microscopy
    Yoshida Shoji; Kanitani Yuya; Oshima Ryuji; Okada Yoshit...
    15th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM 15)/2007-12-06--2007-12-08
  • Nonlinear dependences in pulse-pair-excited scanning tunneling microscopy
    Takeuchi O; Aoyama M; Kondo H; Taninaka A; Terada Y; Shig...
    13th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy, Spectroscopy and Related Technique held in Conjunction with the 13th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy