関口 隆史(セキグチ タカシ)
- 会議発表等
- MCP検出器により得られた反射電子像の特徴
栁原悠人; Yuanzhao Yao; 関口 隆史
日本顕微鏡学会第80回学術講演会/2024-06-03--2024-06-05 - 3分割噴水型二次電子検出器による六角柱状GaN結晶のSEM観察
樋口 慶; Yuanzhao Yao; 関口 隆史; 熊谷和博
日本顕微鏡学会第80回学術講演会/2024-06-03--2024-06-05 - 多元合金多結晶の粒界の反射電子強度異常
松石晃弥; Yuanzhao Yao; 高森 晋; 木村 隆; 関口 隆史
日本顕微鏡学会第80回学術講演会/2024-06-03--2024-06-05 - アルミナ球像から見た絶縁体からの二次電子放出の特徴
Yuanzhao Yao; 早田康成; 関口 隆史
日本顕微鏡学会第80回学術講演会/2024-06-03--2024-06-05 - 低真空SE 検出器（UVD）のアクセプタンス評価
Yuanzhao Yao; 園田涼輔; 早田康成; 関口 隆史
日本顕微鏡学会第80回学術講演会/2024-06-03--2024-06-05 - SEM検出器の特性と像情報
関口 隆史
日本顕微鏡学会第80回学術講演会/2024-06-03--2024-06-05 - 線形代数とSEM ー 電子検出器のアクセプタンスについて
関口 隆史
第60回表面分析研究会/2023-06-29--2023-06-30 - Evaluation of the detection property of an angle selective fountain electron detector
関口 隆史; 熊谷和博
DRIP XIX (The 19th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors)/2022-08-29--2022-09-01 - Cathodoluminescence study of 3C-SiC layer grown on 4H-SiC substrate
Jun Chen; Sazawa Hiroyuki; Wei Yi; Sekigushi Takashi
DRIP XIX (The 19th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors)/2022-08-29--2022-09-01 - 線形代数とSEM／電子検出器のアクセプタンスについて
関口 隆史
第 60 回表面分析研究会/2023-06-29--2023-06-30 - 低真空SEMが拓く顕微鏡の世界
関口 隆史
日本表面真空学会真空技術部会/2023-06-07--2023-06-07 - 3分割噴水型二次電子検出器によるSiC表面の段差構造評価
関口 隆史; 小川創馬; 熊谷和博
日本顕微鏡学会第79回学術講演会/2023-06-26--2023-06-28 - SEMにおける斜出射二次電子・反射電子検出の特徴
関口 隆史
日本顕微鏡学会第79回学術講演会/2023-06-26--2023-06-28 - 低真空SEMによるミセルの観察
関口 隆史
日本顕微鏡学会学術講演会/2021-06-14--2021-06-16 - 各種検出器による枯草菌の観察
関口 隆史
日本顕微鏡学会学術講演会/2021-06-14--2021-06-16 - 走査電子顕微鏡における帯電現象と二次電子放出の関係
関口 隆史
日本顕微鏡学会学術講演会/2021-06-14--2021-06-16 - 試料帯電が反射電子像に与える影響の評価－ハレーション
関口 隆史
日本顕微鏡学会学術講演会/2021-06-14--2021-06-16 - Energy and Direction Resolved Secondary Electron Imaging Using Fountain Detector
Sekigushi Takashi
International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-19)/2019-11-08 - Low Vacuum Scanning Electron Microscopy for Widegap Semiconductors and Insulating Materials
Sekigushi Takashi
International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP XVIII)/2019-09-08--2019-09-12 - GaPにおけるコヒーレントフォノンのGa+集束イオンビーム照射効果
市川 卓人; 関口隆史; 齊藤 雄太; 長谷 宗明
第６７回応用物理学会春季学術講演会/2020-03-12--2020-03-15 - Secondary electron spectroscopy for imaging semiconductor materials
Agemura Toshihide; Sekiguchi Takashi
International Symposium on Semiconductor Manufacturing (ISSM)/2018-12-10--2018-12-11
- MCP検出器により得られた反射電子像の特徴