関口 隆史(セキグチ タカシ)
- 会議発表等
- SEMにおける斜出射二次電子・反射電子検出の特徴
関口 隆史
日本顕微鏡学会第79回学術講演会/2023-06-26--2023-06-28 - 低真空SEMによるミセルの観察
関口 隆史
日本顕微鏡学会学術講演会/2021-06-14--2021-06-16 - 各種検出器による枯草菌の観察
関口 隆史
日本顕微鏡学会学術講演会/2021-06-14--2021-06-16 - 走査電子顕微鏡における帯電現象と二次電子放出の関係
関口 隆史
日本顕微鏡学会学術講演会/2021-06-14--2021-06-16 - 試料帯電が反射電子像に与える影響の評価-ハレーション
関口 隆史
日本顕微鏡学会学術講演会/2021-06-14--2021-06-16 - Energy and Direction Resolved Secondary Electron Imaging Using Fountain Detector
Sekigushi Takashi
International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-19)/2019-11-08 - Low Vacuum Scanning Electron Microscopy for Widegap Semiconductors and Insulating Materials
Sekigushi Takashi
International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP XVIII)/2019-09-08--2019-09-12 - GaPにおけるコヒーレントフォノンのGa+集束イオンビーム照射効果
市川 卓人; 関口隆史; 齊藤 雄太; 長谷 宗明
第67回応用物理学会春季学術講演会/2020-03-12--2020-03-15 - Secondary electron spectroscopy for imaging semiconductor materials
Agemura Toshihide; Sekiguchi Takashi
International Symposium on Semiconductor Manufacturing (ISSM)/2018-12-10--2018-12-11
- SEMにおける斜出射二次電子・反射電子検出の特徴