茂木 裕幸(モギ ヒロユキ)
- 会議発表等
- 時間分解多探針STMを用いたWS2/WSe2面内ヘテロ接合デバイス評価
水野 良祐; 菊地 隆成; 茂木 裕幸; 和田 尚樹; 宮田 耕充; 吉田 昭二; 武内 修; 重川 秀実
2020年日本表面真空学会学術講演会/2020-11-19--2020-11-21 - Ultimate High Conductivity probed by Multiprobe Scanning Tunneling Potentiometry on a High-Quality Graphite Thin Film
Mogi H.; Bamba T.; Murakami M.; Kawashima Y.; Yoshimura ...
27th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM27)/2019-12-05--2019-12-07 - Photoresponse Measurements of Monolayer WSe2MoSe2 In-plane Heterostructure by an Optically-excited Multiprobe method
Mogi H.; Wang Z.; Bamba T.; Takaguchi Y.; Endo T.; Yoshid...
27th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM27)/2019-12-05--2019-12-07 - 光励起多探針計測を用いた単層 WSe2/MoSe2面内ヘテロ構造の光応答評価
茂木裕幸; 汪子涵; 番場隆文; 髙口裕平; 遠藤尚彦; 吉田昭二; 谷中淳; 大井川治宏; 宮田耕充; 重川 秀実
2019年日本表面真空学会学術講演会/2019-10-28--2019-10-30 - New delay-time modulation scheme for optical pump-probe scanning tunneling microscopy (OPP-STM) with minimized light-intensity modulation
Takeuchi Osamu; Mogi Hiroyuki; Wang Zi-Han; Yoon Cheul H...
14th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures (ACSIN) / 26th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM)/2018-10-21--2018-10-25 - Ultrafast Carrier Dynamics in MoS2 Probed by Time-resolved Multi-probe Scanning Tunneling Microscopy
Wang Zi-han; Mogi Hiroyuki; Bamba Takafumi; Yoshida Shoj...
物性研短期研究会「走査トンネル顕微鏡による物性研究の現状と展望」/2016-10-31--2016-11-1 - Transient Dynamics of MoS2 Observed by Multi-probe Optical Pump-probe Scanning Tunneling Microscopy
Wang Zi-han; Mogi Hiroyuki; Bamba Takafumi; Yoshida Shoj...
日本表面科学会関東支部 第4回関東支部セミナー 走査型プローブ顕微鏡のフロンティア～実用材料表面計測入門から最新物性問題への挑戦まで～/2016-10-18 - 光ポンププローブSTM：光強度を変化させない遅延時間変調法
武内 修; 汪 子涵; 茂木 裕幸; Cheul hyun Yoon; 谷中 淳; 吉田 昭二; 重川 秀実
第66回応用物理学会春季学術講演会/2019-3-9--2019-3-12 - 多探針STMを用いた非破壊局所電気伝導評価
茂木 裕幸; 番場 隆文; 武内 修; 重川 秀実
第65回応用物理学会春季学術講演会/2018-3-17--2018-3-20 - 多探針STM装置を用いた単層/2層WSe2の2探針伝導計測
茂木 裕幸; 黒田 生喜; 髙口 裕平; 吉田 昭二; 宮田 耕充; 武内 修; 重川 秀実
第79回応用物理学会秋季学術講演会/2018-9-18--2018-9-21 - 多探針時間分解STMを用いたWSe2単層のキャリアダイナミクス計測
茂木 裕幸; 汪 子涵; 髙口 裕平; 番場 隆文; 吉田 昭二; 宮田 耕充; 武内 修; 重川 秀実
第78回応用物理学会秋季学術講演会/2017-9-5--2017-9-8 - イオンビーム誘起堆積法により作成したPt配線の局所電位測定
茂木 裕幸; 番場 隆文; 武内 修; 重川 秀実
第77回応用物理学会秋季学術講演会/2016-9-13--2016-9-16 - イオンビーム誘起堆積法により作成したPt配線の多探針STP測定
茂木 裕幸; 武内 修; 重川 秀実; 番場 隆文
日本表面科学会関東支部 第4回関東支部セミナー 走査型プローブ顕微鏡のフロンティア～実用材料表面計測入門から最新物性問題への挑戦まで～/2016-10-18 - 導電性ナノ粒子インクのSTMポテンショメトリー
茂木 裕幸; 甲山 智規; 三成 剛生; 武内 修; 重川 秀実
第62回応用物理学会春季学術講演会/2015-3-11--2015-3-14 - STMを用いたMo1-xWxS2単層ヘテロ構造の組成分布解析
茂木 裕幸; 甲山 智規; 小林 佑; 宮田 耕充; 吉田 昭二; 武内 修; 重川 秀実
2015年 第76回応用物理学会秋季学術講演会/2015-9-13--2015-9-16 - WS2/Mo1-xWxS2単層ヘテロ接合単層ヘテロ接合の原子スケールSTS計測
櫻田 龍司; 吉田 昭二; 小林 佑; 茂木 裕幸; 甲山 智規; 宮田 耕充; 武内 修; 重川 秀実
2015年 第76回応用物理学会秋季学術講演会/2015-9-13--2015-9-16 - Mo1-xWxS2合金からなる単層ヘテロ構造のSTM観察と面内組成解析
茂木 裕幸; 吉田 昭二; 小林 佑; 宮田 耕充; 甲山 智規; 武内 修; 重川 秀実
2015年真空・表面科学合同講演会 第35回表面科学学術講演会 第56回真空に関する連合講演会/2015-12-1--2015-12-3 - 多探針ＳＴＭによる不均一物質中の電位分布計測
甲山 智規; 茂木 裕幸; 三成 剛生; 武内 修; 重川 秀実
日本顕微鏡学会 第７０回記念学術講演会 -顕微鏡学に来し方行く末-/2014-5-11--2014-5-13 - 多探針STMによるSTMポテンショメトリー
甲山 智規; 茂木 裕幸; 武内 修; 重川 秀実
ナノ学会第11回大会－異分野研究者間の交流を目指して－/2013-6-6--2013-6-8 - 多探針STM用走査トンネルポテンショメトリーの開発
甲山 智規; 茂木 裕幸; BOLOTOV Leonid; 三成 剛生; 武内 修; 重川 秀実
第74回応用物理学会秋季学術講演会/2013-9-16--2013-9-20 - 多探針 STM による局所電位測定
甲山 智規; 茂木 裕幸; 三成 剛生; 武内 修; 重川 秀実
第54回真空に関する連合講演会/2013-11-26--2013-11-28 - Local resistivity measurement by multiprobe scanning tunneling potentiometry
Mogi Hiroyuki; Bamba Takafumi; Taninaka Atsushi; Yoshida ...
2018 International Conference on Nanoscience + Technology (ICN+T 2018)/2018-07-22--2018-07-27 - Optical Pump-probe Multiprobe Scanning Tunneling Microscopy on Transient Carrier Dynamics in Semiconductors
Wang Zi-han; Mogi Hiroyuki; Yoon Cheul hyun; Yoshida Sho...
14th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures (ACSIN-14) & 26th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM26)/2018-10-21--2018-10-25 - Local Conductivity Measurement on a High Quality Graphite by Multi-probe Scanning Tunneling Potentiometry
Mogi Hiroyuki; Kuroda Ibuki; Kawashima Yuki; Murakami Mu...
14th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures (ACSIN-14) & 26th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM26)/2018-10-21--2018-10-25 - Two-probe Measurement of CVD grown WSe2 on SiO2/Si by Using Conductive AFM Cantilevers
Kuroda Ibuki; Mogi Hiroyuki; Takaguchi Yuhei; Miyata Yas...
14th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures (ACSIN-14) & 26th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM26)/2018-10-21--2018-10-25 - さらに表示...
- 時間分解多探針STMを用いたWS2/WSe2面内ヘテロ接合デバイス評価