関口 隆史(セキグチ タカシ)

所属
数理物質系
職名
教授
eメール
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研究キーワード
走査電子顕微鏡、半導体、格子欠陥
二次電子検出器
取得学位
1996-03博士（理学）東北大学
所属学協会
1988-04 -- (現在)日本応用物理学会
1998-04 -- (現在)日本顕微鏡学会
受賞
2017-06瀬藤賞（顕微鏡学会賞）半導体材料のカソードルミネッセンス・電子線誘起電流による機能評価
論文
会議発表等
  • 線形代数とSEM ー 電子検出器のアクセプタンスについて
    関口 隆史
    第60回表面分析研究会/2023-06-29--2023-06-30
  • Evaluation of the detection property of an angle selective fountain electron detector
    関口 隆史; 熊谷和博
    DRIP XIX (The 19th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors)/2022-08-29--2022-09-01
  • Cathodoluminescence study of 3C-SiC layer grown on 4H-SiC substrate
    Jun Chen; Sazawa Hiroyuki; Wei Yi; Sekigushi Takashi
    DRIP XIX (The 19th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors)/2022-08-29--2022-09-01
  • 線形代数とSEM／電子検出器のアクセプタンスについて
    関口 隆史
    第 60 回表面分析研究会/2023-06-29--2023-06-30
  • 低真空SEMが拓く顕微鏡の世界
    関口 隆史
    日本表面真空学会真空技術部会/2023-06-07--2023-06-07
  • 3分割噴水型二次電子検出器によるSiC表面の段差構造評価
    関口 隆史; 小川創馬; 熊谷和博
    日本顕微鏡学会第79回学術講演会/2023-06-26--2023-06-28
  • SEMにおける斜出射二次電子・反射電子検出の特徴
    関口 隆史
    日本顕微鏡学会第79回学術講演会/2023-06-26--2023-06-28
  • 低真空SEMによるミセルの観察
    関口 隆史
    日本顕微鏡学会学術講演会/2021-06-14--2021-06-16
  • 各種検出器による枯草菌の観察
    関口 隆史
    日本顕微鏡学会学術講演会/2021-06-14--2021-06-16
  • 走査電子顕微鏡における帯電現象と二次電子放出の関係
    関口 隆史
    日本顕微鏡学会学術講演会/2021-06-14--2021-06-16
  • 試料帯電が反射電子像に与える影響の評価－ハレーション
    関口 隆史
    日本顕微鏡学会学術講演会/2021-06-14--2021-06-16
  • Energy and Direction Resolved Secondary Electron Imaging Using Fountain Detector
    Sekigushi Takashi
    International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-19)/2019-11-08
  • Low Vacuum Scanning Electron Microscopy for Widegap Semiconductors and Insulating Materials
    Sekigushi Takashi
    International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP XVIII)/2019-09-08--2019-09-12
  • GaPにおけるコヒーレントフォノンのGa+集束イオンビーム照射効果
    市川 卓人; 関口隆史; 齊藤 雄太; 長谷 宗明
    第６７回応用物理学会春季学術講演会/2020-03-12--2020-03-15
  • Secondary electron spectroscopy for imaging semiconductor materials
    Agemura Toshihide; Sekiguchi Takashi
    International Symposium on Semiconductor Manufacturing (ISSM)/2018-12-10--2018-12-11
担当授業科目
2024-05 -- 2024-08計測実験学筑波大学
2024-04 -- 2024-07走査型電子顕微鏡筑波大学
2024-04 -- 2024-06量子力学I筑波大学
2024-04 -- 2024-07線形代数A筑波大学
2023-10 -- 2024-02光・電子ナノ材料工学特別研究IA筑波大学
2023-10 -- 2024-02光・電子ナノ材料工学特別研究IIA筑波大学
2023-04 -- 2023-08光・電子ナノ材料工学特別研究IIB筑波大学
2023-10 -- 2024-02光・電子ナノ材料工学セミナーII筑波大学
2023-04 -- 2023-08光・電子ナノ材料工学特別研究IB筑波大学
2023-04 -- 2023-08光・電子ナノ材料工学特別研究IIA筑波大学
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一般講演
  • 各種検出器による枯草菌の観察
    関口 隆史
    日本顕微鏡学会学術講演会/2021-06-14--2021-06-16
学協会等委員
2020-06 -- 2022-05日本顕微鏡学会評議員
学内管理運営業績
2022-04 -- 2024-03ハラスメント相談員ハラスメント相談
2021-04 -- 2022-03理工学類総合政策室総合政策室員

(最終更新日: 2024-08-02)