大井川 治宏(オオイガワ ハルヒロ)
- 所属
- 数理物質系
- 職名
- 講師
- 研究分野
薄膜・表面界面物性 応用物性 電子デバイス・電子機器 - 研究キーワード
表面科学 エピタキシャル成長 電子デバイス - 研究課題
スピンダイナミックス可視化技術の開拓と新奇機能素子開発への展開 2010 -- 2015 重川 秀実 日本学術振興会/基盤研究(S) ナノ構造・超高速現象の解析制御と次世代新機能素子開発への展開 2002 -- 2006 重川 秀実 日本学術振興会/基盤研究(S) 窒化物半導体表面 1998 -- 1998 /国内共同研究 硫化物処理化合物半導体表面 1989 -- 1993 /国内共同研究 超低欠陥GaAs結晶成長への挑戦 1997 -- 1998 南日 康夫 日本学術振興会/基盤研究(C) 3,400,000円 半導体レーザの端面劣化機構とその抑制 1994 -- 1994 日本学術振興会/奨励研究(A) 1,000,000円 硫黄処理GaAs表面の分子線エピタキシーとその構造物性 1993 -- 1994 日本学術振興会/その他 6,800,000円 原子オーダで制御された半導体ヘテロ界面の作製 1992 -- 1992 日本学術振興会/奨励研究(A) 900,000円 硫化ガリウムの表面（界面）物性と硫黄処理効果 1990 -- 1992 南日 康夫 日本学術振興会/一般研究(A) 29,000,000円 金属・半導体界面「GaAsショットキー接合」 1991 -- 1991 南日 康夫 日本学術振興会/重点領域研究 1,400,000円 さらに表示... - 取得学位
1990-07 工学博士 筑波大学 - 所属学協会
-- (現在) 応用物理学会 - 受賞
2021-03-16 第5回薄膜・表面物理分科会論文賞 2015 応用物理学会論文賞 1998 日本表面科学会 論文賞 - 論文
- 光励起多探針計測を用いた単層WSe2/MoSe2面内ヘテロ構造の光応答評価
茂木 裕幸; 重川 秀実; 汪 子涵; 番場 隆文; 髙口 裕平; 遠藤 尚彦; 吉田 昭二; 谷中...
日本表面真空学会学術講演会要旨集/2019/p.1Da01R, 2019 - Ultimate High Conductivity of Multilayer Graphene Examined by Multiprobe Scanning Tunneling Potentiometry on Artificially Grown High-Quality Graphite Thin Film
Mogi Hiroyuki; Bamba Takafumi; Murakami Mutsuaki; Kawashi...
ACS Applied Electronic Materials/1(9)/pp.1762-1771, 2019-08 - 光ポンププローブSTM
重川 秀実; 吉田 昭二; 武内 修; 大井川 治宏
顕微鏡/52(1)/pp.46-50, 2017 - Development of laser-combined scanning multiprobe spectroscopy and application to analysis of WSe2/MoSe2 in-plane heterostructure
Mogi Hiroyuki; Wang Zi-Han; Banba Takafumi; Takaguchi Yu...
Appl. Phys. Express/12(4)/p.045002, 2019-03 - 時間分解走査トンネル顕微鏡によるスピンダイナミクス計測
Shoji Yoshida; Osamu Takeuchi; Haruhiro Oigawa; Hidemi S...
固体物理/53(4)/p.165, 2018-04 - Optical pump-probe STM
Shigekawa Hidemi; Shoji Yoshida; Osamu Takeuchi; Haruhiro...
J. Electron Microsc. (Kenbikyo)/52(1)/p.46, 2017-02 - Probing ultrafast spin dynamics with optical pump-probe scanning tunnelling microscopy
Shoji Yoshida; Yuta Aizawa; Zi-han Wang; Ryuji Oshima; Yutaka...
Nature Nanotechnology/9(8)/pp.588-593, 2014-08 - Principles and Application of Heterodyne Scanning Tunnelling Spectroscopy
Eiji Matsuyama; Takahiro Kondo; Haruhiro Oigawa; Donghui Guo...
Scientific Reports/4, 2014-10 - Bases for Time-Resolved Probing of Transient Carrier Dynamics by Optical Pump-Probe Scanning Tunneling Microscopy
Yokota Munenori; Yoshida Shoji; Mera Yutaka; Takeuchi Osamu; ...
NANOSCALE/5(19)/pp.9170-9175, 2013-07 - Optical pump-probe scanning tunneling microscopy for probing ultrafast dynamics on the nanoscale
Yoshida Shoji; Terada Yasuhiko; Yokota Munenori; Takeuchi Os...
The European Physical Journal Special Topics/222(5)/pp.1161-1175, 2013-07 - The Effect of Sulfur on the Surface of III-V Compound Semiconductors
Nannichi Y; Fan J; Oigawa H; Koma A
Extended Abstracts 22nd Conference on Solid State Devices & Materials/pp.453-456, 1990-01 - Stabilization of GaAs Surface/Interface by Sulfur Treatment
Oigawa H; Fan J; Nannichi Y; Ando K; Saiki K; Koma A
Extended Abstracts 20th Conference on Solid State Devices & Materials/pp.263-236, 1988-01 - Synchrotron Radiation Photoemission Study on (NH4)2Sx-treated n-GaAs
Sugahara H; Oshima M; Oigawa H; Shigekawa H; Nannichi Y
Extended Abstracts 21st Conference on Solid State Devices & Materials/pp.547-548, 1991-08 - Oxidation of Sulfur-Treated GaAs Surfaces Studied by Photoluminescence and Photoelectron Spectroscopy
Oshima M; Scimeca T; Watanabe Y; Oigawa H; Nannichi Y
Extended Abstracts 24th Conference on Solid State Devices & Materals/pp.545-547, 1992-08 - Sulfur Structural and Chemical Bonding Changes for Metal/S-Passivated GaAs(111) Studied by the X-ray Standing Wave Technique and Synchrotron Radiation Photoemission Spectroscopy
Sugiyama M; Maeyama S; Scimeca T; Oshima M; Oigawa H; Nannichi...
Extended Abstracts 24th Conference on Solid State Devices & Materials/pp.536-538, 1992-08 - Deposition of CaF2 and GaF3 on sulfur passivated GaAs (111)A, 100, and (111)B surfaces
Scimeca T; Muramatsu Y; Oshima M; Oigawa H; Nannichi Y
Journal of Applied Physics/71/p.4405, 1992-10 - Surface Structures of GaAs(001) with Selenium Adsorbate Studied by Scanning Tunneling Microscopy
Shigekawa H; Oigawa H; Miyake K; Aiso Y; Nannichi Y
Proc. 1st International Symposium on Control of Semiconductor Interfaces/pp.573-574, 1994-01 - Novel interlayer as an interfacial reaction suppressor in high GaAs Schottky barrier
Oshima M; Scimeca T; Watanabe Y; Sugiyama M; Maeyama S; Oigawa...
Proc. 1st International Symposium on Control of Semiconductor Interfaces/pp.199-204, 1994-01 - Dimer Model for Comprehensive Interpretation of Selenium-Passivated GaAs(001) Surface Structures
Shigekawa H; Oigawa H; Miyake K; Aiso Y; Nannichi Y
Proc. 1st International Symposium on Control of Semiconductor Interfaces/pp.303-304, 1994-01 - Surface Passivation of III-V Compound Semiconductors with Chalcogen Atoms
Oigawa H; Shigekawa H; Nannichi Y
Materials Science Forum/185-188/pp.191-198, 1995-01 - Phase Transition between C(4×2) and P(2×2) Structures of the Si(100) Surface at 6K Caused by the Fluctuation of Phase Defects on Dimer Rows due to Dimer Flip-Flop Motion
Shigekawa H; Miyake K; Ishida M; Hata K; Oigawa H; Nannichi Y; ...
Japanese Journal of Applied Physics/35(8B)/pp.L1081-L1084, 1996-01 - Reconstruction of the GaAs(001) surface induced by submonolayer Be deposition
Oigawa H; Wassermeier M; Behrend J; Daeweritz L; Ploog K. H
Surface Science/376(4)/pp.185-191, 1997-01 - Controlled anisotropic ordering of Be deposited on the GaAs(001) surface
Oigawa H; Wassermeier M; Behrend J; Daeweritz L; Ploog K.H
Surface Science/399/pp.39-48, 1998-01 - Si(111) surface under phase transitions studied by the analysis of inner structures using bias-dependent scanning tunneling microscopy
Miyake K; Kaikoh T; Li Y.-J.; Oigawa H; Shigekawa H
Japanese Journal of Applied Physics/38(6B)/pp.3841-3844, 1999-01 - STM/RHEED Observation of N-for-As Exchange Reaction on GaAs(001)-2×4 : As Surface
Imayoshi T; Oigawa H; Shigekawa H; Tokumoto H
Proceedings of Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Proximal Probe Microscopy/pp.179-180, 1999-01 - さらに表示...
- 光励起多探針計測を用いた単層WSe2/MoSe2面内ヘテロ構造の光応答評価
- 著書
- 硫黄処理による砒化ガリウムの表面物性の研究
大井川 治宏
1990-07 - 化合物半導体表面
大井川 治宏
ナノテクノロジーのための走査プローブ顕微鏡/表面分析技術選書・丸善/pp.107-128, 2002-01 - 半導体量子構造の解析
大井川 治宏
実戦ナノテクノロジー 走査プローブ顕微鏡と局所分光/裳華房/pp.402-416, 2005-11 - 薬品を扱うために／その他の技術
大井川 治宏
走査プローブ顕微鏡 －正しい実験とデータ解析のために必要なこと－/実験物理科学シリーズ・共立出版/pp.145-153, 2009-03
- 硫黄処理による砒化ガリウムの表面物性の研究
- 会議発表等
- Heterodyne Scanning Tunnelling Spectroscopy
Matsuyama Eiji; Oigawa Haruhiro; Nakamura Junji; Kondo...
31st International Colloquium on Scanning Probe Microscopy/2023-12-07--2023-12-08 - 光励起多探針技術の開発と低次元半導体評価への応用
茂木 裕幸; 汪 子涵; 高口裕平; 遠藤尚彦; 宮田耕充; 嵐田 雄介; 吉田昭二; 谷中 淳; 大井川...
第68回応用物理学会春季学術講演会/2021-03-16--2021-03-19 - 光励起多探針技術の開発と低次元半導体評価への応用
茂木裕幸; 汪 子涵; 高口裕平; 遠藤尚彦; 嵐田 雄介; 吉田 昭二; 谷中 淳; 大井川治宏; 宮田耕充; 武内 修...
2021年第68回応用物理学会春季学術講演会/2021-03-16--2021-03-19 - Photoresponse Measurements of Monolayer WSe2MoSe2 In-plane Heterostructure by an Optically-excited Multiprobe method
Mogi H.; Wang Z.; Bamba T.; Takaguchi Y.; Endo T.; Yoshid...
27th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM27)/2019-12-05--2019-12-07 - 光励起多探針計測を用いた単層 WSe2/MoSe2面内ヘテロ構造の光応答評価
茂木裕幸; 汪子涵; 番場隆文; 髙口裕平; 遠藤尚彦; 吉田昭二; 谷中淳; 大井川治宏; 宮田耕充; 重川 秀実
2019年日本表面真空学会学術講演会/2019-10-28--2019-10-30 - Photoresponse of WSe2/MoSe2 in-plane heterostructure probed by a laser-combined multiprobe spectroscopy
Mogi Hiroyuki; Wang Zi-Han; Bamba Takafumi; Takaguchi Yu...
Recent Progress in Graphene & 2D Materials Research (RPGR2019)/2019-10-06--2019-10-10 - GaAs/GaInNAsSb系ヘテロ接合化合物太陽電池の作製と評価
市川周平; 宮下直也; 上殿明良; 大井川治宏; 岡田至崇
第69回応用物理学会学術講演会講演予稿集_応用物理学会_'08秋_3_/2008-09 - パルス対励起型STMによる硫黄処理GaAs(001)表面のキャリアダイナミックスと基板依存性
大井川治宏; 寺田康彦; 大久保淳史; 岩田康史; 藤田高士; 佐々木亮; 武内修; 重川秀実
第71回応用物理学会学術講演会講演予稿集_応用物理学会_'10秋_1_/2010-09 - Nanoscale dynamics probed by laser-combined scanning tunneling microscopy
Shigekawa Hidemi; Yoshida Shoji; Takeuchi Osamu; Aoyama ...
7th International Conference on Nano-Molecular Electronics (ICNME2006)
- Heterodyne Scanning Tunnelling Spectroscopy
- 知的財産権
- 計測装置、観察システム、及び計測方法
松山 英治; 近藤 剛弘; 大井川 治宏 - 計測装置、測定装置、及び観察システム
松山 英治; 近藤 剛弘; 大井川 治宏 - ヘテロダインビートプローブ走査顕微鏡およびこれによってトンネル電流に重畳された微小信号の計測方法
松山英治; 重川秀実; 根本承次郎; 中村潤児; 大井川治宏; 武内修; 保田諭
- 計測装置、観察システム、及び計測方法
- 担当授業科目
2024-12 -- 2025-02 微積分3 筑波大学 2024-10 -- 2024-12 微積分2 筑波大学 2024-10 -- 2025-02 電子・物理工学特別研究IVA 筑波大学 2024-10 -- 2025-02 電子・物理工学特別研究IIIA 筑波大学 2024-04 -- 2024-08 電子・物理工学特別研究VB 筑波大学 2024-10 -- 2025-02 電子・物理工学特別研究IA 筑波大学 2024-04 -- 2024-08 電子・物理工学特別研究IIIB 筑波大学 2024-04 -- 2024-08 電子・物理工学特別研究IIB 筑波大学 2024-10 -- 2025-02 電子・物理工学特別研究VB 筑波大学 2024-10 -- 2025-02 電子・物理工学特別研究IVB 筑波大学 さらに表示...
(最終更新日: 2024-05-10)